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高溫紅外/XAS 透射裝置(HT-FTIR-600K)
    發布時間: 2022-09-22 20:17    

一、產品簡介
高溫紅外/XAS 透射原位反應裝置(HT-FTIR-600K)是一款適用于高溫環境下探測樣品紅外光 譜和 XAS 光譜的原位測試裝置。該裝置適用于絕大多數同步輻射光源的 X 射線吸 收譜線站(XAFS)。該裝置采用環境場加熱方式對中心樣品進行加熱,樣品加熱 溫度更加均勻、準確,常用使用溫度范圍為室溫到 600K。加熱爐體和樣品臺采 用分離設計,樣品臺可隨時取出,方便實驗操作人員的操作。此外樣品臺做了獨 特的氣路設計,能夠保證樣品的氣體表面處理,窗口采用兼具紅外和 X 射線透射 的金剛石膜,保證了一套裝置的多功能光譜聯用功能。

二、技術參數特征 

1、高溫紅外/XAS 透射反應池外形尺寸:70*56*197mm;

2、 固定底座尺寸 70*70mm,固定螺孔尺寸 60*60mm;

3、外殼材質:316L 不銹鋼和鋁合金,加熱絲材質:電阻絲,樣品架材質:316L; 

4、窗口:Φ10mm 金剛石片,厚度 0.15±0.02mm;

5、樣品尺寸:Φ6*0.5~2mm;

6、溫度調節范圍:RT—600K,精度范圍為±1K,配備程序溫控儀進行調節;

7、 主反應腔體可抽真空,也可通入 H2、CH4 和 CO 等還原性氣體;

8、該原位裝置主要包含真空腔體,加熱裝置,溫控系統,水冷系統以及氣路系 統構成。

9、溫度控制器為程序控制方式,可實現電腦遠程控制;

10、 主體腔室外殼層設有水冷裝置,并配備水冷循環機保證整體外表面的溫度低 于 60℃。


三、工作原理圖詳見下圖

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